|
|||||||||||||||
|
АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция |
Дифракционная решетка. Дифракционная решетка представляет собой оптический прибор, состоящий из большого числа регулярно расположенных одинаковых щелей
Дифракционная решетка представляет собой оптический прибор, состоящий из большого числа регулярно расположенных одинаковых щелей. Благодаря своей периодической структуре она может быть использована для анализа спектра и измерения длин волн падающего на нее света. Расстояние
Картину Фраунгофера при дифракции света на дифракционной решетке наблюдают или на достаточно удаленном от нее экране, или на экране в задней фокальной плоскости собирающей линзы, которую располагают за решеткой (рис. 7). Картина образуется в результате многолучевой интерференции волн, возникших после дифракции падающего света на щелях дифракционной решетки. При нормальном падении на решетку плоской световой волны (рис. 8а) в направлениях, удовлетворяющих условию
где Максимумы интенсивности, которые возникают в направлениях, определяемых соотношением (16), называют главными максимумами
. (17)
Концентрация интенсивности света в направлениях главных максимумов связана с уменьшением интенсивности света в других направлениях. В целом, распределение интенсивности на дифракционной картине является достаточно сложным и описывается выражением
где График зависимости интенсивности от
где Дифракционные минимумы обусловлены угловым распределением интенсивности света после его дифракции на щелях решетки, и их положение определяется соотношением
где
Между интерференционными минимумами располагаются добавочные максимумы, на долю которых приходится лишь незначительная доля интенсивности. Зависимость направлений на главные максимумы от длины волны падающих на решетку световых волн позволяет ее применять в качестве прибора для спектрального анализа света. Основными характеристиками спектрального прибора являются угловая дисперсия и разрешающая способность. Угловая дисперсия
Для дифракционной решетки
Разрешающая способность определяется как отношение длины волны
В случае дифракционной решетки разрешающая способность равна
При выполнении соотношения (24) главный максимум -го порядка для спектральной линии с совпадает с ближайшим к нему минимумом для линии с длиной волны . При этом «провал» интенсивности между двумя максимумами составляет примерно 20%, и поэтому, согласно критерию Рэлея, они воспринимаются раздельно (рис. 10).
Поиск по сайту: |
||||||||||||||
Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.257 сек.) |