Построение спектральной характеристики фотопленки

Для построения графика зависимости спектральной чувствительности от длины волны необходимо использовать определение S_λ (см формулу 22)

, где для прибора спектросенситометра ИСП-73: Н_λ = Е_λ × τ × lщ× t

или после логарифмирования этих выражений

lg S_λ = - lg H_{λ D0+1.0} = - (lgE_λ + lgl_щ + lg τ + lg t)_D0+1.0 (23)

здесь Е_λ – монохроматическая освещенность в фокальной плоскости прибора при длине волны λ в отсутствии ослабителей света (т.е. без диафрагм) и ширине щели спектрографа l_щ = 1мм; t – выдержка, обеспечиваемая затвором при получении спектросенситограммы; l_щ – ширина щели спектрографа, установленная микрометренным винтом при получении данной спектросенситограммы; τ – коэффициент пропускания дырчатой диафрагмы, за которой получено изображение спектра. В приложении 4 табл.1 приводятся значения монохроматической освещенности lgЕ_λ = f (λ), а также значения коэффициентов пропускания дырчатых диафрагм τ_i и lg τ_i для каждого номера i диафрагмы (прил.4, табл.2). Кроме того, значения lg t и lg l_щ можно выбрать из приложения 4 табл.3, 4 по величинам выдержки и ширины щели спектрографа, при которых производилось впечатывание спектра.

Результаты спектросенситометрических испытаний представляют в виде графика -кривой спектральной чувствительности lgS_λ = f (λ). График строится в полулогарифмических координатах, где по оси абсцисс откладывают значение длины волны λ, а по оси ординат - логарифмы спектральной чувствительности lgS_λ фотоматериала.

Рис.17

Обычно используют один из двух способов получения значений S_λ, необходимых для построения кривой спектральной чувствительности.

Первый способ предусматривает построение семейства монохроматических характеристических кривых D = f (lg H _λ) (рис. 18).

Рис.18.

При этом значения lg H_λ, под действием которых образовались измеренные на денситометре и занесенные в табл 3.1плотности спектросенситограммы, вычисляются по формуле 23 заносятся в ту же таблицу. После этого возможно построение монохроматических характеристических кривых. Затем по каждой монохроматической кривой в соответствии с критерием светочувствительности D _кр = D₀ +1.0 определяются значения спектральных экспозиций lg H_{λ D0+1.0}, под действием которых и сформировалась критериальная плотность почернения D_кр. Последовательность определения Sλ в этом случае аналогична определению общей светочувствительности S_D (1.4.4). По найденным значениям строятся кривая спектральной чувствительности испытуемого фотоматериала (см. рис.17)

Второй способ определения значения спектральной чувствительности не требует промежуточного расчета спектральных экспозиций и построения монохроматических характеристических кривых. В соответствии с этим способом по данным табл 3.1. необходимо построить на миллиметровке семейство кривых D = f (l)_τ (см.рис.19). Таких графиков должно быть 13 (по числу диафрагм). На этот же график нанести прямую, соответствующую критерию спектральной чувствительности Dкр = Do + 1,0 ( рис.19). Дальнейшие вычисления lg H_{λ D0+1.0} и, соответственно - lg S_λ ведутся только для тех длин волн λ, при которых достигается плотность Dкр. Эти значения λ, при которых D кр = D₀ +1 пересекает каждую из кривых D = f (λ)_τ пределяются графически и заносятся в табл. 3.2.

Рис.19

Поиск по сайту: