МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРЕДЕЛЬНОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ДЕФЕКТОСКОПА И ЭКВИВАЛЕНТНОЙ ПЛОЩАДИ ВЫЯВЛЕННОГО ДЕФЕКТА ПО ОБРАЗЦУ С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМ ОТВЕРСТИЕМ

Предельную чувствительность (S_n) в квадратных миллиметрах дефектоскопа с наклонным преобразователем (или эквивалентную площадь S_э выявленного дефекта) определяют по стандартному образцу предприятия с цилиндрическим отверстием или по стандартному образцу СО-2А или СО-2 в соответствии с выражением

где N ₀-показание аттенюатора, соответствующее ослаблению эхо-сигнала от бокового цилиндрического отверстия в стандартном образце предприятия или в стандартном образце СО-2А, или СО-2 до уровня, при котором оценивают предельную чувствительность, дБ;

N_x -показание аттенюатора, при котором оценивают предельную чувствительность дефектоскопа S_n или при котором амплитуда эхо-сигнала от исследуемого дефекта достигает уровня, при котором оценивают предельную чувствительность, дБ;

D N -разность между коэффициентами прозрачности границы призмы преобразователя-металл контролируемого соединения и коэффициентом прозрачности границы призмы преобразователя-металл стандартного образца предприятия или стандартного образца СО-2А (или СО-2), дБ (D N £ 0).

При эталонировании чувствительности по стандартному образцу предприятия, имеющему форму и чистоту поверхности такую же, как и контролируемое соединение, D N = 0;

b ₀-радиус цилиндрического отверстия, мм;

-скорость поперечной волны в материале образца и контролируемого соединения, м/с;

f -частота ультразвука, МГц;

r ₁-средний путь ультразвука в призме преобразователя, мм;

-скорость продольной волны в материале призмы, м/с;

a и b-угол ввода ультразвукового луча в металл и угол призмы преобразователя соответственно, град;

H -глубина, для которой оценивается предельная чувствительность или на которой расположен выявляемый дефект, мм;

Н ₀-глубина расположения цилиндрического отверстия в образце, мм;

d _t -коэффициент затухания поперечной волны в металле контролируемого соединения и образца, мм^-1.

Для упрощения определения предельной чувствительности и эквивалентной площади рекомендуется рассчитать и построить диаграмму (SKH-диаграмму), связывающую предельную чувствительность S_n (эквивалентную площадь S_э), условный коэффициент К выявляемости дефекта и глубину Н, для которой оценивается (настраивается) предельная чувствительность или на которой расположен выявленный дефект.

Сходимость расчетных и экспериментальных значении S_n при a = (50 ± 5)° не хуже 20 %.

Пример построения SKH -диаграммы и определения предельной чувствительности S_n и эквивалентной площади S_э