Выполнение исследований

Задачей аналитического этапа исследований является определение наличия и (по возможности) характера составляющих погрешностей, происходящих от любого источника. При этом наличие комплексных погрешностей обобщенных источников, например таких, как погрешности средств измерений или "условий" являются очевидными и обоснованию не подлежат. Анализ проводится с целью констатации наличия или отсутствия погрешностей от конкретных источников в каждой из методик выполнения измерений. Например, если измерения осуществляют методом сравнения с мерой, в инструментальные погрешности входят не только погрешности прибора, но и погрешности используемых мер или композиций мер. Возможно ли возникновение значимых инструментальных составляющих погрешности от вспомогательных устройств, таких как стойка или штатив средства линейных измерений, присоединительные провода электрических приборов и др. необходимо выяснить в ходе анализа.

Поскольку любые МВИ дают материал для функционального анализа, выбор объектов измерений, измеряемых физических величин и предлагаемых МВИ носит произвольный характер. Для частного функционального анализа погрешностей от разных источников подбирают такие МВИ, которые позволяют эффективно моделировать проявления погрешностей.

Так для подтверждения наличия погрешностей прибора можно измерять этим прибором размеры "точных" мер методом непосредственной оценки с использованием нескольких аналогичных МВИ. В этом случае погрешность измерения ∆ = Х – Хм, значит если одну и ту же меру измерять несколькими МВИ, различия полученных результатов будут свидетельствовать о неравенстве погрешностей измерений:

Х ₁ ≠ Х ₂ ≠ Х ₃ Þ ∆₁ ≠ ∆₂ ≠ ∆₃.

Если сопоставляемые МВИ отличаются только характеристиками применяемых средств измерений, а методические погрешности, погрешности условий и субъективные практически одинаковы, то можно считать, что различия погрешностей измерений вызваны неодинаковыми погрешностями применяемых СИ, то есть

∆₁ ≠ ∆₂ ≠ ∆₃ Þ ∆ _{си 1} ≠ ∆ _{си 2} ≠ ∆ _{си 3}.

А если неинструментальные составляющие погрешности (методические, условий и субъективные) пренебрежимо малы по сравнению с погрешностью средства измерений, разность результата измерения и значения меры может быть принята за оценку погрешности исследуемого прибора

∆₁ ≈ ∆ _{си 1}, ∆₂ ≈ ∆ _{си 2}, ∆₃ ≈ ∆ _{си 3}.

Погрешности прибора в каждой исследуемой точке могут иметь стохастический (случайный) характер, но при незначимой случайной составляющей эту погрешность можно рассматривать как систематическую постоянную. Стабильность инструментальных погрешностей в разных точках диапазона измерений свидетельствует о наличии постоянной или переменной погрешности функции преобразования исследуемого СИ.

Для исследования погрешностей мер можно выполнить альтернативные измерения однозначных мер и имеющих те же номиналы ансамблей мер (например, одиночная гиря – ансамбль той же массы, отдельная концевая мера длины – блок мер той же длины). В таком эксперименте для регистрации несоответствия можно использовать прибор с высокой чувствительностью, настраивая его на один из сопоставляемых объектов. Расхождение результатов вызвано погрешностями мер (для блока концевых мер длины к погрешностям размеров отдельных мер блока добавляются и погрешности их притирки) и погрешностями прибора, используемого в качестве индикатора отклонений. Если расхождения результатов альтернативных измерений стабильны, погрешности прибора можно считать одинаковыми для противопоставляемых случаев, а разности результатов рассматривать как следствие проявления погрешностей мер.

Погрешность отдельной меры или однократно составленного ансамбля мер – систематическая постоянная, характер погрешностей многократно составляемых ансамблей мер зависят от особенностей процесса сбора ансамбля.

Другие возможные методики исследования инструментальных составляющих погрешности измерений исполнители разрабатывают самостоятельно и согласуют с руководителем.

Для моделирования методической погрешности из-за некорректной идеализации объекта измерений можно измерять деталь с явно выраженной погрешностью формы, например, измерять высоту (толщину) изогнутой пластины накладным и/или станковым СИ. Измерение накладным прибором дает только значения толщины такой пластины. При базировании пластины на столе станкового СИ вогнутой поверхностью фактически измеряют ее высоту от нижней прилегающей плоскости (рис. 1 а). Наличие методической погрешности подтверждается разностью между результатами измерения высоты и собственно толщины пластины, например, измеренной накладным прибором. Разность результатов измерений для конкретного объекта будет постоянной, что позволяет говорить о наличии постоянной систематической погрешности его измерений.

Можно также измерять диаметр седлообразной номинально цилиндрической поверхности вала (рис.1 б). При измерении седлообразной ступени вала станковым СИ определяют не толщину вала, а высоту верхней образующей над базовой плоскостью. Методическая погрешность для конкретного сечения данной детали постоянна и имеет максимальное значение в самом узком сечении измеряемой поверхности.

	а б Рис. 1. Методические погрешности из-за неидеальности объектов линейных измерений

Для моделирования методической погрешности при измерении электрических величин можно выполнить измерение напряжения источника постоянного тока без нагрузки (рис 2 б), измерение высокоомного и низкоомного резисторов с "параллельным подключением" сопротивления оператора (рис 2 г) и т.п. Если сопротивление оператора на несколько порядков больше, чем измеряемое сопротивление резистора, то методическая погрешность при параллельном подключении оператора может оказаться пренебрежимо малой, но она имеет место и может быть рассчитана аналитически.

Для оценки погрешностей "условий" функциональный анализ МВИ начинают с выявления

Для оценки погрешностей "условий" функциональный анализ МВИ начинают с выявления влияющих ФВ. "Подозреваемые ФВ" подвергают аналитической оценке, а также экспериментальной проверке. Так для моделирования погрешности "условий" при измерении линейных размеров можно измерять предварительно нагретую деталь или нагревать средство измерений. Измерение нагретой детали при остывании осуществляют через произвольные промежутки времени и заканчивают исследования после прекращения изменения ее размеров и наблюдаемой стабилизации измеряемого размера (Xn). Тепловое воздействие на средство измерений можно моделировать, используя местный нагрев стойки станкового средства измерений в разных точках (рис. З). При исследовании СИ с высокой чувствительностью (с ценой деления 0,5 мкм и менее) роль источника тепла успешно играет рука оператора. Для каждой исследуемой точки строят экспериментальную тенденцию кажущегося изменения размеров измеряемой детали в координатах "время нагревания (остывания) Т –показания прибора Х" (рис. 4).

Можно также моделировать воздействие магнитных или электромагнитных полей на средства измерений, основанные на соответствующих физических принципах.

С X

А

В

T

Рис. 3. Схема прибора с указанием Рис. 4. Графики кажущегося изменения

точек нагревания размеров детали при нагревании СИ:

--- в точке А; — в точке В; ··· в точке С

Воздействие постоянной по значению влияющей величины вызывает постоянную погрешность, а закономерное изменение влияющей величины приводит к переменной во времени систематической погрешности. Стохастические колебания влияющей величины, которую стремятся удержать в области нормальных или рабочих значений, приводят к появлению случайных составляющих погрешностей.

При моделировании погрешностей отсчитывания (субъективная составляющая погрешности при использовании аналоговых средств измерений) оценивают погрешности округления и интерполирования при работе разных операторов. Можно также воспроизвести погрешности из-за параллакса при наблюдении под углами, значительно отличающимися от нормального. Рекомендуется при снятии отсчетов разными операторами, каждый результат записывать "секретно" и сравнивать эти результаты только по завершении всего цикла снятия отсчетов при всех положениях указателя.

Погрешности манипулирования средствами измерений можно исследовать на примере измерений одной физической величины либо разными операторами, либо одним оператором с переустановкой детали и т.д. Например можно исследовать процесс манипулирования гладким микрометром, сравнивая результаты измерений разных операторов (навыки работы и скорости вращения барабана индивидуальны).

Возможные варианты разработки методик исследований погрешностей манипулирования:

а) исследование манипулирования средством измерений при настройке прибора на ноль по мере (один оператор настраивает прибор, второй независимо контролирует результаты настройки);

б) исследование манипулирования объектом измерений при выполнении независимых измерений одной и той же физической величины с помощью одной МВИ разными операторами.

Допускается использование других методик, предложенных исследователями.

Поиск по сайту: