АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

Рівень Б

Читайте также:
  1. ВИЗНАЧЕННЯ НЕОБХІДНОСТ ВИКОНАННЯ БЛИСКАВКОЗАХИСТУ ОБ’ЄКТА ВІД ПРЯМОГО УДАРУ БЛИСКАВКИ І ЙОГО РІВЕНЬ БЛИСКАВКОЗАХИСТУ
  2. Керування забезпечує необхідний рівень стійкості системи у процесах взаємодії її з зовнішнім середовищем та взаємодій всередині самої системи.
  3. Класифікація та рівень блискавкозахисту об’єктів.
  4. Клімату на рівень конфліктності в педагогічному колективі
  5. Рівень безробіття населення (за методологією МОП) у 2009-2010 рр.,
  6. Сучасний рівень централізації виробництва

170. Акустичний контроль базується на:

В) властивості акустичних коливань поширюватись одночасно по всьому об’єму матеріалу і відбиватись від границь двох середовищ

171. При застосуванні луна-імпульсного методу прозвучування матеріалу проводять:

В) коротким ультразвуковим імпульсом

172. Прямі перетворювачі випромінюють в об’єкт:

В) повздовжні хвилі перпендикулярно до поверхні введення

173. Горизонтальна розгортка екрана електронного блока дефектоскопа є:

Д) часовою

174. При односторонньому доступі до поверхні об’єкта контролю найчастіше використовують:

А) луна-імпульсний метод з одним суміщеним перетворювачем

Схема якого методу зображена на рисунку?

А) луна-імпульсного

Схема якого методу зображена на рисунку?

Б) тіньового

177.

 

178. Вертикальна розгортка екрану електронного блока дефектоскопа є:

Г) амплітудною

179. Ознакою дефекту при луна-імпульсному методі контролю є:

Д) поява стійкого луна-сигналу на екрані дефектоскопа


1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |

Поиск по сайту:

Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.004 сек.)