АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

AMDEC Процесс (продукт)

Читайте также:
  1. A) это основные или ведущие начала процесса формирования развития и функционирования права
  2. APQC структура классификации процессов SM
  3. CISC и RISC архитектуры процессоров
  4. g) процесс управления информацией.
  5. I. Расчет термодинамических процессов, составляющих цикл
  6. L.3.1. Процессы переноса вещества и тепла.
  7. RISC-процессоры 3-го поколения
  8. VI. ТИПЫ ПЕРЕГОВОРНОГО ПРОЦЕССА
  9. VII. Психология процессов сновидения
  10. Аграрные отношения. Процесс читлучения
  11. Адвокат в уголовном процессе

 

Процесс (продукт): Дата AMDEC (внедрение):

Ссылка: Дата AMDEC (последний пересмотр):

 

Операция Вид отклонения (дефекта) Последствия отклонения (дефекта) Возможные причины Проверка текущая и предполагаемая F* G* D* C1* Какие меры необходимо предпринять C2*
                     

F: частота возникновения (fréquence) Показатель критичности: C= F x G x D

G: серьезность (gravité) C1: до принятых мер (criticité)

D: вероятность обнаружения (détection) С2: после принятых мер


Примерные данные для показателей F, G и D

Частота возникновения (или вероятность обнаружения) причины дефекта (отклонения): F

  1 дефект на протяжении жизненного цикла продукта
  1 дефект за 10 лет
  1 дефект за год
  Больше 1 дефекта за год

 

Серьезность последствий: G Вероятность обнаружения отклонения (дефекта): D

  Последствие не обнаружено
  Дефект провоцирует порчу продукта
  Недовольство (персонала) местных жителей
  Дефект влияет на безопасность использования продукта
  Очень слабая вероятность обнаружения
  Слабая вероятность обнаружения
  Средняя вероятность обнаружения
  Сильная вероятность обнаружения

 

Порог критичности продукта (процесса): C= F x G x D (выбирается в зависимости от уровня СМК конкретной организации)

Например: 3x100x20= 6000

 

Для выявления возможных причин использовать метод 5М (человек - man, сырье - material, оборудование - machine, технология - method и окружающая среда – milieu)

Среди «человеческих» факторов выделяются:

1.1 – квалификация работника (образование – 1.1.1, подготовка –1.1.2, опыт –1.1.3);

1.2 – физическое состояние (1.2.1 – усталость, 1.2.2 – болезнь, 1.2.3 – другие факторы);

1.3 – психологическое состояние (1.3.1 – сосредоточенность, 1.3.2 – внимательность).

       
   
Машина
 
 

 

 


           
   
   
 

 

 


Человек
       
   
Метод (контроль)
 
Среда
 

 


1 | 2 |

Поиск по сайту:

Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.005 сек.)