АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ

Читайте также:
  1. В результате реформирования университетского образования
  2. Влияние средневековых университетов на становление науки
  3. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 1 страница
  4. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 10 страница
  5. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 11 страница
  6. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 12 страница
  7. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 13 страница
  8. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 2 страница
  9. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 3 страница
  10. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 4 страница
  11. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 5 страница
  12. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ (МАДИ)» 6 страница

Изменение концентрации происходит по экспоненциальному закону

 

Подвижность неосновных носителей заряда влияет на удельную проводимость и удельное сопротивление

,

где σ – удельная проводимость;

ρ – удельное сопротивление.

Радиационные эффекты способствуют уменьшению концентрации основных носителей заряда, снижают их подвижность. Все эти процессы приводят к росту удельного сопротивления полупроводника. Уменьшение подвижности и концентрации основных носителей заряда, а также снижение времени жизни неосновных носителей заряда, вызывает уменьшение коэффициента передачи тока базы β, росту токов утечки и напряжения насыщения биполярного транзистора, а также изменению предельно допустимого обратного напряжения диода и ёмкости перехода. Изменение этих параметров компонентов ИС влияет на статические и динамические характеристики микросхем.

       
 
 
   

 


Диапазон отказов

 

 

Глудкин О.П. Методы и устройства испытаний РЭС, ЭВС - М.: Высш.

шк., 1991.-335 с.


[1] Перечень основных терминов и определений приведен в приложении

САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ


1 | 2 | 3 | 4 | 5 |

Поиск по сайту:



Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.003 сек.)