Описание прибора

Двойной микроскоп МИС-11 (рис. 4.7) предназначен для измерения шероховатости поверхности с параметрами от Rz 80 мкм до Ra 0.16 мкм. Метод измерения основан на принципе светового сечения (рис. 4.5). На контролируемую поверхность детали проектируется световая щель под углом 45° через осветительный тубус, которая рассматривается под углом через наблюдательный тубус. Так как на контролируемой поверхности имеются микронеровности, то линия пересечения световой проекции щели и поверхности – кривая, копирующая неровность в данном сечении.

Рис. 4.5. Рис. 4.6.

Держатели тубусов 4 перемещаются по направляющим кронштейна 3 при помощи реечной передачи вращением винта 14. В корпусе помещены два микроскопа – осветительный 5 и визуальный 6. В микроскопе 5 имеется прямолинейная щель, освещаемая источником света. Изображение щели рассматривается с помощью микроскопа 6, снабженного окулярным микрометром 11. Для того чтобы иметь возможность установить изображение щели в середине поля окуляра, осветительный тубус снабжен винтом 29. Микрофокусировка осуществляется поворотом винта 15. Кольцо 30 служит для регулирования ширины щели. Контролируемое изделие устанавливается на столе 16, снабженном микрометрическими головками 17, с помощью которых можно перемещать стол в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Поворот стола осуществляется при отстопоренном винте 18. Для установки цилиндрических деталей служит накладной столик с призмой 19.

Поиск по сайту: