АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

Задачи, решаемые с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Читайте также:
  1. E) Обратиться за помощью к России
  2. Азотной кислоты с помощью серной кислоты
  3. Анализ электорального поведения с помощью социологии политики Пьера Бурдье.
  4. ВВЕДЕНИЕ ЛЕКАРСТВЕННЫХ СРЕДСТВ С ПОМОЩЬЮ КЛИЗМ
  5. Вопрос 26. Табличный процессор.Создание и проведение расчетов с помощью электронных таблиц. Автоматизация информационных процессов
  6. Вопрос 5. Экологический мониторинг окружающей среды, его цели и задачи, уровни мониторинга.
  7. Вывод борной кислоты с помощью ионообменных фильтров.
  8. Д. Перкинс, Т. Мюррей и др.) рассматривали мировую политику с помощью правовых и этических категорий, ориентируясь на создание нормативных моделей мировых политических отношений.
  9. Другие виды микроскопии
  10. Задачи, виды, характеристика продвижения продукции
  11. Задачи, последовательность и источники контроля и ревизии внеоборотных активов

Если растровая электронная микроскопия может объяснить, как произошло разрушение в исследуемом материале изделия, как металлическая поверхность детали откликается на термопластическое воздействие внешней среды, то просвечивающая электронная микроскопия может объяснить, почему это происходит, как этому способствует структурно-фазовое состояние материала.

Метод просвечивающей электронной микроскопии позволяет изучать внутреннюю структуру исследуемых металлов и сплавов, в частности:

· определять тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз;

· определять ориентационные соотношения между фазой и матрицей;

· изучать строение границ зерен;

· определять кристаллографическую ориентацию отдельных зерен, субзерен;

· определять углы разориентировки между зернами, субзернами;

· определять плоскости залегания дефектов кристаллического строения;

· изучать плотность и распределение дислокаций в материалах изделий;

· изучать процессы структурных и фазовых превращений в сплавах;

· изучать влияние на структуру конструкционных материалов технологических факторов (прокатки, ковки, шлифовки, сварки и т.д.).

Все перечисленные выше задачи постоянно встречаются в практической деятельности исследователей металлов и сплавов. Главной из них является задача выбора материала конструкций с заданными механическими свойствами, такими чтобы готовая конструкция смогла стабильно работать в условиях дальнейшей ее эксплуатации. Эту задачу можно решить только совместными усилиями кристаллографов, металловедов и технологов. Успех ее решения зависит:

· от правильного выбора металла основы с нужным типом кристаллической решетки (ОЦК, ГЦК, ГПУ) - это область кристаллографии;

· от легирования и термопластической обработки металла с целью формирования в нем заданной структуры - это область металловедения;

· от разработки технологических процессов изготовления конструкции- это область технологии.

Задача создания сплава с заданными механическими свойствами подразумевает создание материала с нужной внутренней структурой, поскольку практически все механические свойства являются структурно-чувствительными. Все без исключения изменения свойств металлов и сплавов в глубинных или поверхностных слоях это отклик на изменение их внутреннего строения на макро-, микро- и субмикро-скопическом уровнях.

Изучение микротопографии поверхности и внутренней структуры конструкционных материалов является одним из наиболее эффективных приложений мощных современных и быстро развивающихся методов растровой и просвечивающей электронной микроскопии.

 


1 | 2 | 3 | 4 |

Поиск по сайту:



Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.005 сек.)