 |
АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция
Орієнтовні напрями і тематика науково-дослідницьких робіт учнів секції «Експериментальна фізика» Малої академії наук України, надані Інститутом фізики напівпровідників НАН України
Орієнтовні напрями і тематика науково-дослідницьких робіт учнів секції експериментальної фізики відділення фізики і астрономії, надані Інститутом фізики НАН України
| Орієнтовні напрямки наукових досліджень | Актуальні теми |
| Фізика плазми | Дослідження плазмохімічних процесів у розрядах бар’єрного типу за атмосферного тиску |
| Плазмооптичні системи у розрядах магнетронного типу | |
| Азотування та оксидування металічних плівок у плазмі тліючого розряду для збільшення міцності матеріалів | |
| Дослідження поверхневих явищ на нанорівні | Дослідження структури і властивостей надтонких органічних плівок методами сканувальної зондової мікроскопії |
| Дослідження поверхневих явищ у надтонких плівках, адсорбованих на атомногладких поверхнях | |
| Дослідження електричних властивостей адсорбованих плівок методами сканувальної тунельної спектроскопії | |
| Фізика молекулярних та рідких кристалів | Взаємодія світла з твердим тілом, явище фотопровідності у напівпровідниках |
| Дослідження збуджених станів органічних та неорганічних сполук методами оптичної спектроскопії | |
| Поширення поляризованого світла у рідких кристалах, рідкокристалічні дисплеї | |
| Дифузія колоїдних частинок в анізотропному середовищі | |
| Оптика | Лазерні пучки у лінійних та нелінійних середовищах |
| Фотоіндуковані зміни показника заломлення та методи їх вимірювань | |
| Фотоіндуковані зміни оптичного поглинання та методи їх вимірювань | |
| Двопроменезаломлення у кристалах. Закон Малюса | |
| Дифракція на світлоіндукованих гратках | |
| Світлоіндуковане розсіяння у фоторефрактивних кристалах | |
| Спостереження кілець Ньютона та вимірювання довжини хвилі випромінювання світлодіоду (червоне, жовте, зелене, синє світло) | |
| Когерентне випромінювання лазерного джерела. Формування плоскої хвилі за допомогою оптичної системи. Дифракція на отворі та щілині. Експеримент Юнга. Вимірювання довжини хвилі. Інтерференція пучків та знаходження довжини когерентності | |
| Спостереження картини інтерференції двох плоских хвиль. Періодичний розподіл інтенсивності та його залежність від кута сходження хвиль | |
| Спекл-структура розсіяного когерентного світла. Залежність розміру спеклів від властивостей дифузора. Спостереження еволюції спекл-поля від дифузора до далекої зони | |
| Інтерференційна картина від плоскої хвилі та спекл-поля. Спостереження оптичних вихорів (дислокацій хвильового фронту) |
Орієнтовні напрями і тематика науково-дослідницьких робіт учнів секції «Експериментальна фізика» Малої академії наук України, надані Інститутом фізики напівпровідників НАН України
| Відділення фізики і астрономії | ||
| Назва секції | Орієнтовні напрями наукових досліджень | Актуальні теми дослідницьких робіт |
| Експериментальна фізика | Атомно-силова мікроскопія і спектроскопія | Системні дослідження особливостей ростових процесів у багатошарових напівпровідникових структурах із варіаціями наноструктурних елементів: квантовими точками, нитками, колами, «молекулами» квантових точок та ін. |
| Раманівсько-люмінесцентна субмікронна спектроскопія | Розробка комплексного підходу до вирішення міждисциплінарних питань фундаментальної, прикладної, міжгалузевої науки і промисловості | |
| Високороздільна рентгенівська дифрактометрія | Визначення параметрів багатошарових епітаксійних структур методом Х-променевої дифрактометрії. Товщина шарів, склад, період повторення. Вимірювання параметрів і структури кристалітів в аморфних і кристалічних матрицях, зокрема Si в SiOх. Визначення параметрів багатошарових дзеркал за допомогою Х-променевої рефлектометрії. Товщина шарів, період повторення і дисперсія |
Поиск по сайту: