АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

Оценка состояния трактов и секций

Читайте также:
  1. III. Анализ результатов психологического анализа 1 и 2 периодов деятельности привел к следующему пониманию обобщенной структуры состояния психологической готовности.
  2. А) Оценка уровня подготовленности нового работника.
  3. Агрегатные состояния
  4. Агрегатные состояния и термодинамические фазы
  5. Акты гражданского состояния
  6. Анализ активов организации и оценка эффективности их использования.
  7. Анализ безубыточности и оценка запаса финансовой прочности
  8. Анализ безубыточности и оценка запаса финансовой прочности
  9. Анализ движения и технического состояния основных средств
  10. Анализ и оценка денежных потоков по видам деятельности
  11. Анализ и оценка денежных потоков предприятия
  12. Анализ и оценка проекта СФЗ

Для оценки состояний трактов введены понятия аномалий и дефектов. Условия аномалий в обслуживании используются, чтобы определить характеристики ошибок тракта SDH, когда тракт не находится в состоянии дефекта. Например, блок с ошибками EB, определенный с использованием кода детектирования ошибок EDC, – это аномалия. Условия дефекта в обслуживании используются для определения изменения характеристик тракта. Если обнаружен дефект, то отмечается секунда со значительными ошибками (табл. 7.6).

Таблица 7.6

Секунды со значительными ошибками из-за дефектов ближнего конца

Дефекты ближнего конца Вид тракта
LP UNEQ  
LP TIM Применимы к трактам
TU LOP низкого порядка
TU AIS  
HP LOM (примечание 1)  
HP PLM  
HP UNEQ  
HP TIM Применимы к трактам
AU LOP высокого порядка
AU AIS  
Примечания к табл. 7.6: 1. Дефект не связан с VC-3. 2. VC AIS не включен в перечень дефектов этой таблицы, поскольку он применим только к части тракта. 3. Приведенные дефекты относятся к дефектам тракта. Дефекты секции, такие как MS AIS, RS TIM, STM LOF и STM LOS, вызывают AIS в слоях трактов.

 

Таблица 7.7

Секунды со значительными ошибками из-за дефектов дальнего конца

Дефекты дальнего конца Вид тракта
LP RDI Применим к трактам низкого порядка
HP RDI Применим к трактам высокого порядка

 

Количество блоков с ошибками в течение одной секунды может быть подсчитано как количество циклов (сверхциклов), в которых в кодовых словах BIP-n источника и стока при их сравнении имелось любое количество нарушений. Процедуры внутреннего контроля BIP-n позволяют получить в функции завершения стока тракта или секции количество нарушений в кодовых словах BIP источника и стока от нуля до n, тогда количество блоков с ошибками в течение одной секунды может быть подсчитано по формуле

E = P,

где E – количество блоков с ошибками в период измерения; P – количество индивидуальных паритетных нарушений в период измерения.

Таблица 7.8 Пороговые значения для определения секунд со значительными ошибками в трактах
  Тракт Порог для SES. Число блоков с ошибками в течение одной секунды
VC-11  
VC-12  
VC-2  
VC-3  
VC-4  
VC-2-5c  
VC-4-4c  

Применение такого способа подсчета блоков с ошибками возможно в трактах с процедурами BIP-2 и BIP-8.

Полный набор характеристик в трактах SDH следующий:

· секунда с ошибками ES.

ES наблюдается, когда в течение одной секунды, происходит одна аномалия или один дефект. Для определения ES как события фактическое количество блоков с ошибками в течение одной секунды несущественно. (табл. 7.6 и 7.7);

· секунда со значительными ошибками SES.

SES наблюдается, когда в течение одной секунды отмечается Х блоков с ошибками как аномалии или один дефект (табл. 7.6 и 7.7), где значение Х называется порогом для определения секунды с ошибками, как секунды со значительными ошибками (табл 7.8);

· фоновая блочная ошибка BBE.

BBE наблюдается, когда отмечаются блоки с ошибками как аномалии в течение времени, не принадлежащего SES.

Пороговые значения для SES приведены в табл. 7.9 и 7.10.

Таблица 7.9

Пороговые значения для определения секунд

со значительными ошибками в мультиплексных секциях

  Мультиплексная секция   Порог для SES. Относительная величина количества блоков с ошибками к числу блоков в течение одной секунды, %
sSTM-11  
sSTM-21  
sSTM-12  
sSTM-22  
sSTM-14  
sSTM-24  
sSTM-18  
sSTM-116  
STM-0  
STM-1  
STM-4  
STM-16  
STM-64  

Таблица 7.10

Пороговые значения для определения секунд

со значительными ошибками в регенерационных секциях

  Регенерационная секция   Порог для SES. Относительная величина количества блоков с ошибками к числу блоков в течение одной секунды, %
sSTM-11  
sSTM-21  
sSTM-12  
sSTM-22  
sSTM-14  
sSTM-24  
sSTM-18  
sSTM-116  
STM-0  
STM-1  
STM-4  
STM-16  
STM-64  

Для трактов OTN пороговые значения для определения секунд со значительными ошибками приведены в табл. 7.11.

Таблица 7.11

Пороговые значения для определения секунд со значительными ошибками


1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 |

Поиск по сайту:



Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.003 сек.)