|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция |
Методика эксперимента
Для наблюдения дифракции электронов используется электронный микроскоп, который в данном эксперименте работает в режиме электронографа (в режиме дифракции). Оптическая блок-схема микроскопа приведена на рис.2. Пучок электронов формируется с помощью осветительной системы, включающей электронную пушку (катод 1, фокусирующий электрод 2 и анод 3) и конденсорные линзы 4,6 с диафрагмами 5,7. Исследуемая поликристаллическая плёнка размещается на предметном столике 8. Формирование дифрагированного электронного пучка и проецирование его на люминесцентный экран 13 или фотопластинку 14 осуществляется объективной линзой 9 с диафрагмой 10. Промежуточная 11 и проекционная 12 линзы электронного микроскопа в режиме дифракции не используются.
С помощью электронного микроскопа, работающего в режиме общей дифракции, провести наблюдение дифракционной картины на экране и получить фотоснимок электронограммы.
Измерить диаметры четырёх наиболее ярких дифракционных колец, соответствующих наиболее плотно упакованным атомным плоскостям кристалла алюминия. Эти плоскости в кристаллографии имеют специальные обозначения в виде миллеровских индексов h, k, ℓ. Используя известные для алюминия значения межплоскостных расстояний d (полученные рентгеновским методом) и расстояние L от кристалла до экрана в электронном микроскопе, рассчитать по формуле (2) длину волны де Бройля. Учесть, что каждое из четырёх колец соответствует разным атомным плоскостям и имеет порядковый номер m =1. Рассчитать среднее значение длины волны де Бройля, полученное экспериментально электронографическим методом. Вычислить длину волны де Бройля по формулам (3) и (4) для ускоряющего электроны напряжения U, которое использовалось при получении электронограммы. Результаты измерений и расчётов внести в таблицу:
Оценить относительную и абсолютную погрешности измерений по формулам: dl= Результат представить в виде: l = <l> ± Dl. Сравнить полученные экспериментально и рассчитанные теоретически по формулам (3) и (4) длины волн де Бройля электронов. Вывод: Изучен электронографический метод исследования дифракции электронов на кристаллической решётке. Получено экспериментальное подтверждение теории де Бройля о волновых свойствах электронов. Поиск по сайту: |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (2.058 сек.) |