|
|||||||
АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция |
Дифракция Фраунгофера на дифракционной решётке
Одномерная дифракционная решётка представляет из себя систему параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделённых равными по величине непрозрачными промежутками. Величина называется периодом дифракционной решётки. Рассмотрим падение на дифракционную решётку плоской монохроматической световой волны, волновой фронт которой совпадает с плоскостью решётки. По принципу Гюйгенса-Френеля каждая щель – часть волновой поверхности – излучает вторичные волны в сторону экрана наблюдения. Фаза волн в плоскости решетки для всех щелей одинакова. Интенсивность в произвольной т. P на экране будет результатом наложения волн, идущих от всех щелей. Если первая щель в точке наблюдения создаёт колебание , то вторая щель в точке наблюдения создаёт колебание . Аналогично , …, , где – разность фаз между волнами, идущими от соседних щелей. Результирующее колебание в точке наблюдения определяется суперпозицией колебаний, создаваемых отдельной щелью: , где – комплексная амплитуда колебаний в точке наблюдения, – количество щелей в дифракционной решетке. Интенсивность света на экране наблюдения определяется квадратом амплитуды результирующего колебания: (10) Интенсивность дифракционного поля можно получить из исследования последней формулы, т.е. зависимости интенсивности от угла дифракции. а) Из формулы видно, что интенсивность обращается в ноль при условии , (11) Полученное условие называется условием главных минимумов для дифракционной решетки и соответствует условию минимума при дифракции от одной щели. Таким образом, минимум для щели является также минимумом для решетки. б) Интенсивность также обращается в ноль, если , , (12) – количество щелей дифракционной решётки. Выражение является условием минимума для дифракционной решетки и определяет положение вторичных минимумов интенсивности. в) В случае, когда , , (13) функция (10) будет принимать максимальное значение. Третье условие определяет положение главных максимумов при дифракции на дифракционной решётке и называется условием для главных максимумов. Из вышеприведенных условий следует, что между двумя соседними главными максимумами располагается дополнительных минимумов и соответственно дополнительных максимумов. Интенсивность дополнительных максимумов незначительна, они лишь создают некоторый фон на экране. Таким образом, распределение интенсивности и дифракционная картина, получающиеся от решетки имеют вид, представленный на рис.17а,б. Пунктирная кривая, проходящая через вершины главных максимумов, изображает интенсивность от одной щели, умноженную на . При указанных на графике параметрах решетки главные максимумы 2-го, 4-го и т.д. порядков пропадают, так как они накладываются на минимумы от одной щели. При наблюдении в монохроматическом свете на экране виден ряд ярких полос, разделенных темными промежутками.
При изменении параметров дифракционной решетки, получающиеся распределение интенсивности и дифракционная картина будут меняться (рис18а,б).
Поиск по сайту: |
Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Студалл.Орг (0.004 сек.) |