АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомДругоеЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция
|
Пример расчета суммарной длины связей и плотности трасс в конструкциях коммутационных элементов устройств ЭВМ
Условие задачи:
На основе результатов расчета, полученных в Примерах 8.1, 8.2 и 8.3 для заданных 3‑х вариантов построения устройства ЭВМ, определить расчетные значения суммарных длин связей и плотности трасс в конструкциях коммутационных элементов этих устройств.
Решение
1. Суммарные длины связей в конструкциях коммутационных элементов (кристаллах БИС и СБИС, кремниевой подложке МКМ и МПП ФБ) определялись в отдельности для каждого уровня компоновки устройства (S Lсвi) по приведенной в главе 6 формуле (6.9) и затем суммировались по коммутационному элементу в целом .
Таблица 8.4.
Результаты расчета средних длин связей и средних длин логических цепей для 3‑х вариантов конструкции устройства ЭВМ, использующих 4 уровня компоновки элементов и микропроцессорный принцип построения схем.
Уровень компоновки i
| Схемная интеграция
| Max интеграция
| Ki
| mi
| K опт i
| nсвi
| Ni
| Mi
| Nsi
| Msi
| i = 1
|
|
|
|
| 2,418
| 10,8
| 1,79
| 2,47
| i = 2
|
|
|
|
| 1,677
| 59,8
| 2,09
| 3,66
| i = 3
|
|
|
|
| 1,352
| 166,3
| 1,75
| 1,69
| i = 4
|
|
|
|
|
| 707,1
| 2,03
| 1,79
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | Поиск по сайту:
|