Вероятностное тестирование

При вероятностном тестировании на испытуемую схему пода­ются случайные или псевдослучайные входные последовательнос­ти. Главное достоинство такого подхода в том, что исключается необходимость предварительного вычисления детерминированного теста. Это вычисление может оказаться слишком сложным. Такая си­туация возникает, при больших размерах испытуемой схемы или в том случае, когда нет достаточных сведений о ее внутренней струк­туре. Тогда целесообразно применить вероятностное тестирование.

Два способа организации вероятностного тестирования приве­дены на рис. 4.61 и 4.62. Первый способ использует эталонную схе­му (см. рис. 4.61). Наборы случайного теста, вырабатываемые ге­нератором, поступают на входы испытуемой и эталонной схем. Их реакции сравниваются устройством сравнения. В случае их расхож­дения делается вывод о неисправности испытуемой схемы. Второй способ отличается методом сравнения выходных реакций. В этом случае реакция испытуемой схемы приводится к компактному виду с помощью схемы сжатия. Результат сравнивается со сжатым эта­лоном.

В отличие от детерминированного тестирования, когда обна­ружение данной неисправности гарантированно, при случайном тестировании это происходит с некоторой вероятностью. Пусть испытуемая схема имеет п входов и пусть Е есть множество последовательностей из k входных векторов, которые могут быть при­ложены к схеме. Каждый входной вектор может быть одним из 2 ^п векторов. Тогда Е содержит 2 ^nk элементов.

Предположим, что все входные векторы вырабатываются гене­ратором случайных наборов с одинаковой вероятностью и что появление векторов в последовательности независимо друг от дру­га. Пусть E _i – множество последовательностей из Е, которые об­наруживают неисправность i. Мощность множества E _iравна σ_i.

Вероятность того, что один входной вектор не обнаруживает неис­правность i равна 1 – σ_i / 2 ^п. Вероятность того, что случайная входная последовательность длины k обнаруживает неисправность i:

Формула позволяет получить ответ на следующий воп­рос. Дана схема и требуемая вероятность обнаружения данной не­исправности. Какова должна быть длина случайного теста?

Рис. 4.61. Схема вероятностного тестирования

Рис. 4.62. Схема вероятностного компактного тестирования

Поиск по сайту: